渦流陣列檢測
渦流陣列技術
渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數據， 可避免不同線圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優勢
同單通道渦流技術相比，渦流陣列技術具有下列優勢：
檢測時間大幅度降低。
單次掃查覆蓋更大檢測區域。
減小了機械和自動掃查系統的復雜性。
提供檢測區域實時圖像，便于數據的判讀。
極好地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。
改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

傳感器之間的多路轉換技術。

渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸，使渦流設置具有更大的靈活性。

探頭可以做成不同的形狀和尺寸，以更好地適應檢測部件的外形。

用于腐蝕檢測的發射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度。

用于表面裂痕檢測的發射-接收探頭以及一個可選編碼。

用于表面裂痕檢測的絕對式探頭。
請了解有關我們渦流陣列探頭的更多的信息 
渦流陣列軟件
簡單的數據采集和分析顯示
           

C掃描視圖中的數據采集，可快速有效地檢測缺陷。
分析模式下的數據選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
波幅、相位和位置測量。
可調彩色調色板。
大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規單通道ECT探頭檢測相適應。
校準向導
分步進行。
一組中的所有通道可被同時校準，每個通道各有自己的增益和旋轉。
波幅和相位可以根據不同的參考缺陷設定。
報警
３個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
可以在阻抗圖中定義不同的報警區形狀（扇形、長方形、環形等）。
自動探頭識別和配置
探頭被連接后，C掃描參數和多路器的順序即可被自動設置。
頻率范圍保護可避免損壞探頭。
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰通道間的提離變化。
高級實時數據處理
             

實時數據插值可以改進缺陷的空間顯示。
使用兩個頻率，可生成一個MIX信號，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）。
數據處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應用實例：在搭接處邊緣檢測出裂紋，因為該處厚度出現急劇的變化。經濾波的數據可以改進檢測效果，特別是對小裂紋而言。

           
渦流模塊的技術規格 
外型尺寸
（寬 x 高 x 厚）  244毫米 x 182毫米 x 57毫米
（9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸） 
重量  1.2公斤（2.6磅） 
接口  1個OmniScan®渦流陣列探頭接口
1個19針Fischer®渦流探頭接口
1個BNC接口 
通道數量  32個通道，帶內置多路轉換器
64個通道，帶外置多路轉換器
探頭識別  自動探頭識別和設置 
發生器
發生器數量  1個（帶內置電子參考） 
最大電壓  12 Vp-p，10 Ω 
工作頻率  20 Hz～6 MHz 
帶寬  8 Hz～5 kHz（單線圈中）。同時隙成反比例關系，并通過儀器在多路模式下設定。 
接收器
接收器數量  1個～4個 
最大輸入信號  1 Vp-p 
增益  28 dB～68 dB 
內置多路轉換器
發生器數量  32個（８個時隙時，4個發生器同時工作；使用外部多路轉換器時，多達64個） 
最大電壓  12 Vp-p，50 Ω 
接收器數量  4個差分接收器（每個8時隙）
最大輸入信號  1 Vp-p 
數據采集
數字化頻率  40 MHz
采集速率  1 Hz～15 kHz（單線圈中）。 速率可由儀器處理能力限制，或通過多路激發模式的延遲設定所限制。 
Ａ/D分辨率  16比特 
數據處理
相位旋轉  0°～360°，步距為0.1° 
濾波  FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻（截止頻率可調）、中值濾波器（在2點～200點之間變化）、平均濾波器（在2點～200點之間變化 ） 
通道處理  混合 
數據存儲
最大文件容量  取決于內部閃存空間：180 MB（或者300 MB，可選）
數據同步
按內部時鐘  1 Hz～15 kHz（單線圈） 
外部步速  有 
按編碼器  單軸或雙軸 
報警器
報警器數量  3個 
報警區域形狀  扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和環形 
輸出類型  視頻、音頻以及TTL信號 
模擬輸出  1個（X或Y）