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      偏光顯微鏡的特點及基本原理

      2011-05-25
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      偏光顯微鏡(Polarizingmicroscope)

             偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質,在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當然這些物質也可用染色法來進行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。

      偏光顯微鏡的特點

           將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法,以鑒別某一物質是單折射(各向同行)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、化學等領域,在生物學和植物學也有應用。

      偏光顯微鏡的基本原理

          偏光顯微鏡必須具備以下附件:起偏鏡,檢偏鏡,補償器或相位片,專用無應力物鏡,旋轉載物臺。

      偏光鏡檢術的方式

          a、正相鏡檢(Orthscope):又稱無畸變鏡檢,其特點是使用低倍物鏡,不用伯特蘭透鏡(BertrandLens),被研究對象可直接用偏振光研究。同時為使照明孔徑變小,推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。

          b、錐光鏡檢(Conoscope):又稱干涉鏡檢,研究在偏振光干涉時產生的干涉圖樣,這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。在該方法中,用強會聚偏振光束照明。

      偏光顯微鏡在裝置上的要求

         a、光源:最好采用單色光,因為光的速度,折射率,和干涉現象由于波長的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。

          b、目鏡:要帶有十字線的目鏡。

          c、聚光鏡:為了取得平行偏光,應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。

          d、伯特蘭透鏡:聚光鏡光路中的輔助部件,這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。它可保證用目鏡來觀察在物鏡后焦平面中形成的平涉圖樣。

      (5)偏光鏡檢術的要求

          a、載物臺的中心與光軸同軸。

          b、起偏鏡和檢偏鏡應處于正交位置。

          c、制片不宜過薄。
       

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